Прескочи към съдържанието
Връщане към търсене

Csehország – Pásztázó elektronmikroszkópok – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace

Univerzita Palackého v OlomouciЧехияПубликувано на 23.07.2026 г.
33 дни остават

Описание

Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.

Кодове CPV

Scanning electron microscopesIon microscopesSpectrometersMass spectrometer

Документи и подаване

AI резюме
Влезте, за да получите AI резюме

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Свързани поръчки