Дaния – Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч) – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU изисква доставка, инсталация, пускане и приемане на една (1) платформа с фокусиран йонен сноп сканиращ електронен микроскоп (FIB-SEM) с двойна лъча. Инструментът ще служи в многопотребителска изследователска среда и ще се използва за високоразрешаващо повърхностно изображение, специфично за местоположението на попречни сечения, подготовка на TEM ламели (включително автоматизирани работни процеси), 3D FIB-SEM томография, газоподпомагано отлагане и изтъняване, наномащабна манипулация и елементен микроанализ с енергийно-дисперсионна рентгенова спектроскопия (EDS) и ToF-SIMS.