Прескочи към съдържанието
Връщане към търсене

Гepмaния – Микроскопи със сканиращи сонди – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität BayreuthГерманияПубликувано на 11.11.2026 г.
13 дни остават

Описание

Предметът на закупуването е високоразрешаващо сканиращо зондово микроскоп (AFM), включително всички необходими за експлоатацията хардуерни и софтуерни компоненти. Системата служи за високоразрешаващо характеризиране на повърхности и граници на нано- и атомарна скала, особено за 3D-AFM измервания в течности, както и за дългосрочни измервания с минимална дрейф в научни приложения.

Кодове CPV

Scanning probe microscopesMicroscopes

Документи и подаване

AI резюме
Влезте, за да получите AI резюме

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Свързани поръчки