Прескочи към съдържанието
Връщане към търсене

Дaния – Машини и уреди за изпитвания и измерване – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUДанияПубликувано на 04.10.2026 г.
8 дни остават

Описание

Това публично поръчване се отнася до планираното закупуване от DTU Nano на Фотонна Асемблажна Станция и Фотонна Станция за Пробване на Вафер. Публичното поръчване е разделено на две части – по една за всяка от двете станции. Подаващите оферти могат да изберат да участват в една или в двете части, които ще бъдат оценени и приети индивидуално. Асемблажната станция е за свързване на масиви от влакна (FAUs) с оптичен чип. Типът свързване ще бъде ръбово спрямо вълноводите за подравняване, но ако е необходимо, подравняването може да се извърши и с помощта на светлинния източник на чипа (ако съществува) или чрез използване на външен светлинен източник и свързване на два FAUs, по един от всяка страна на чипа. Така основната цел на машината е да извършва асемблаж и прикрепване на влакна към фотонни чипове. Системата трябва да поддържа дейности за изследвания, прототипиране, развитие на процеси, пилотно производство и производство в малки обемове в рамките на напреднатата производствена инсталация на DTU Nano. DTU има дейности в областта на Силициеви Фотонни (SiPh), Фотонни Интегрирани Схемни (PICs), Оптични Трансивер, Лазерни Модули, Фотонни Детектори, Фотонни Влакна, Копакетни Оптики и Квантови Фотонни Уреди, които искаме да поддържаме по най-добрия възможен начин. DTU, следователно, има намерение да закупи преконфигурируема, гъвкава, многофункционална машина. Целта на фотонната станция за пробване на вафер е да се характеризира качеството на фотонните интегрирани схеми (PICs). Трябва да е възможно да се характеризират както оптичните, така и електрическите характеристики. За оптичната характеристика основната техника за влизане/излизане ще бъде чрез решетъчни спрямо вълноводи, но оборудването трябва да може да бъде конфигурирано и за ръбово спрямо компоненти на вафера в канавка. В този случай може да се налагат различни държери и влакна. Електрическите характеристики трябва да се характеризират както в постоянния ток, така и в радиочестотен режим до 40 GHz, използвайки зонди и/или зондни карти. Системата трябва да поддържа дейности за изследвания, развитие, квалификация на процеса и рутинна характеристика в рамките на напреднатата производствена инсталация на DTU Nano.

Кодове CPV

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Документи и подаване

AI резюме
Влезте, за да получите AI резюме

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Свързани поръчки