Прескочи към съдържанието
Връщане към търсене

Швeция – Електронни сканиращи микроскопи (с подвижен електронен лъч) – EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscope

Kungliga Tekniska högskolanШвецияПубликувано на 30.09.2026 г.
15 дни остават

Описание

Кралският технологичен институт КТХ търси оферти за интегрирана система за енергийно-дисперсионна рентгенова спектроскопия (EDS) и дифракция на електронно обратно разсейване (EBSD), която да бъде монтирана на съществуващия JEOL JSM-7800F полево-емисен сканиращ електронен микроскоп (FE-SEM) в лабораторията Хултгрен.

Кодове CPV

Scanning electron microscopes

Документи и подаване

AI резюме
Влезте, за да получите AI резюме

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Свързани поръчки