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Németország – Árammennyiség-mérő műszerek – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikГерманияПубликувано на 15.06.2026 г.
Крайният срок е минал
ГерманияОписание
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Кодове CPV
Instruments for measuring electrical quantitiesMachines and apparatus for testing and measuring
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Влезте, за да получите AI резюмеContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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