Гepмaния – Апарати за наблюдение на повърхността – High resolution X-ray inspection tool

Фраунхоферовският институт за микроструктура на материалите и системи IMWS изследва поведението при приложение, надеждността, безопасността и жизнения цикъл на иновативни материали в компоненти и системи. Бизнес единицата „Електронни материали и компоненти“ на Fraunhofer IMWS подпомага индустрията и партньорите по изследванията с международно признатото си експертизи в анализиране на откази на електронни компоненти. Fraunhofer IMWS ще усили своите възможности за напреднали анализи на откази и материална характеристика, за да подпомогне разгръщането на нови технологии за хетерогенна интеграция, за да се справят с изискванията за производство и надеждност. За да се овозможи безразрушаващото откриване и оценка на структурни отклонения, контактни дефекти, характеристики на повреди и тяхното най-точно възможно локализиране в пакета, за да се овозможи по-нататъшно високоразрешаващо физическо диагностициране, най-новите поколения радиография (2D) и рентгенова томография (3D-CT) системи са необходими, особено за безразрушаващото откриване и оценка на структурни отклонения, контактни дефекти, характеристики на повреди и тяхното най-точно възможно локализиране в пакета, за да се овозможи по-нататъшно високоразрешаващо физическо диагностициране. За постобработка на генерираните набори от изображения е необходима високопроизводителна мултипроцесорна работилница, за да се идентифицират микроскопични отклонения и дефекти в устройствата. Този търг е за доставка на функционално комплектно устройство, включително монтиране, пускане в експлоатация и всички необходими връзки, одобрения/сертификации и софтуер за работа. Изискванията за съвременен рентгенов инструмент за инспекция на високо интегрирани компоненти 2.5/3D са описани по-долу: