Přeskočit na obsah
Zpět na vyhledávání

Švédsko – Mikroskopy – Atomic Force Microscope (AFM)

Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagŠvédskoPublikováno 20. 7. 2026
44 dnů zbývá

Popis

Atomic Force Microscope (AFM) pro charakterizaci vzorků filmů a povrchů jak za suchých podmínek, tak v kapalinových prostředích.

Kódy CPV

MicroscopesChecking and testing apparatus

Dokumenty a podání

AI shrnutí
Přihlásit se pro AI shrnutí

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Související zakázky