Přeskočit na obsah
Zpět na vyhledávání

Nizozemsko – Mikroelektronické stroje a mikrosoustavy – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNONizozemskoPublikováno 27. 7. 2026
41 dnů zbývá

Popis

Hlavním účelem tohoto zařízení FIB/SEM je provádět materiálové frézování (řezání), 3D charakterizaci a analýzu průřezů epitaxiálně vyrůstajících vrstev InP, InGaAs, InAlGaAs a InGaAsP na substrátech InP. Struktury mohou obsahovat také planarizační vrstvy na bázi polymerů, dielektrické vrstvy SiOx nebo SiNx a kovové vrstvy TiPtAu nebo NiGeAu.

Kódy CPV

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumenty a podání

AI shrnutí
Přihlásit se pro AI shrnutí

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Související zakázky