Přeskočit na obsah
Zpět na vyhledávání

Svédország – Ellenőrző és tesztelőkészülékek – Semiautomatic ellipsometer

Kungliga Tekniska högskolanŠvédskoPublikováno 09. 9. 2026
32 dnů zbývá

Popis

KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.

Kódy CPV

Checking and testing apparatus

Dokumenty a podání

AI shrnutí
Přihlásit se pro AI shrnutí

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Související zakázky