Přeskočit na obsah
Zpět na vyhledávání

Dánsko – Zkušební a měřící stroje – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDánskoPublikováno 04. 10. 2026
15 dnů zbývá

Popis

Tento výzva k tendru se týká plánované zakázky DTU Nano na Fotonické montážní stanici a Fotonickou stanici pro sondaže plošných obvodů. Výzva k tendru je rozdělena na dvě části – jednu pro každou ze dvou stanic. Uživatelé mohou vybrat, že budou nabízet na jednu nebo obě části, které budou vyhodnocovány a udělovány samostatně. Montážní stanice slouží k připojování optických jednotek (FAUs) k optickému čipu. Typ připojení bude hranové spojení pomocí vlnových smyček pro zarovnání, ale pokud je to nutné, lze zarovnání provést buď pomocí zdroje světla na čipu (pokud existuje) nebo pomocí externího zdroje světla a připojení dvou FAUs, jeden na každé straně čipu. Hlavním účelem stroje je tedy provádět montáž a připevnění optických čipů. Systém musí podporovat výzkum, prototypování, vývoj procesů, pilotní výrobu a výrobu nízkého objemu v rámci pokročilé výrobní zařízení DTU Nano. DTU má aktivity v oblasti Silicon Photonics (SiPh), Fotonických integrovaných obvodů (PICs), Optických přenosek, Laserových modulů, Fotodetektorů, Fiber-optických sestav, Kopakovaných optik a Kvantových fotonických zařízení, které chceme co nejlépe podporovat. DTU proto zamýšlí nakoupit přeskupitelný, flexibilní, všestranný stroj. Účelem fotonické sondovací stanice pro plošné obvody je charakterizovat kvalitu fotonických integrovaných obvodů (PICs). Musí být možné charakterizovat jak optické, tak elektrické vlastnosti. Pro optickou charakterizaci bude hlavní technika připojení/výstupu přes gratingové spojky, ale zařízení by mělo být možné nakonfigurovat také pro hranové připojení k komponentovým fasetám v žlábku na plošném obvodu. V tomto případě mohou být potřebné různé držáky a optické vlákna. Elektrické charakteristiky jsou charakterizovány jak v DC, tak v RF až do 40 GHz pomocí sondy nebo sondových karet. Systém musí podporovat výzkum, vývoj, kvalifikaci procesů a rutinní charakterizační činnosti v rámci pokročilého výrobního zařízení DTU Nano.

Kódy CPV

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumenty a podání

AI shrnutí
Přihlásit se pro AI shrnutí

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Související zakázky