Přeskočit na obsah
Zpět na vyhledávání

Belgie – Laboratorní, optické a přesné přístroje a zařízení (mimo skel) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgiePublikováno 03. 6. 2026
Není uveden žádný deadline

Popis

VAFEROVÝ PLASMATICKÝ FOKUSOVANÝ IONTOVÝ ZÁŘEZNÝ SKENOVACÍ ELEKTRONOVÝ MIKROSKOP (PFIB-SEM) Systém

Kódy CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Dokumenty a podání

AI shrnutí
Přihlásit se pro AI shrnutí

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Související zakázky