Spring til indhold
Tilbage til søgning

Sverige – Mikroskoper – Atomic Force Microscope (AFM)

Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagSverigePubliceret den 20. jul. 2026
44 dage tilbage

Beskrivelse

Atomic Force Mikroskop (AFM) til karakterisering af filmprøver og overflader under både tørre forhold og i væskemiljøer.

CPV-koder

MicroscopesChecking and testing apparatus

Dokumenter & indsendelse

AI sammandrag
Log ind for et AI sammandrag

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Relaterede udbud