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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergTysklandPubliceret den 21. okt. 2026
32 dage tilbage
TysklandBeskrivelse
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
CPV-koder
Scanning electron microscopesMicroelectronic machinery and apparatus
Dokumenter & indsendelse
AI sammandrag
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