Danmark – Elektronrastermikroskoper – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU har behov for levering, installation, indstilling og godkendelse af en (1) fokuseret ionstråle skannende elektronmikroskop (FIB-SEM) dual-beam platform. Instrumentet skal tjene et multi-bruger forskningsmiljø og vil blive brugt til højopløsende overfladebilleddannelse, stedsspecifikke tværsnit, TEM lamella forberedelse (inklusive automatiserede arbejdsgange), 3D FIB-SEM tomografi, gasassisteret afsætning og ætsning, nanoskala manipulation og elementær mikroanalyse ved energidispersiv røntgenspektroskopi (EDS) og ToF-SIMS.