Spring til indhold
Tilbage til søgning

Tyskland – Scanning probe-mikroskoper – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität BayreuthTysklandPubliceret den 11. nov. 2026
14 dage tilbage

Beskrivelse

Genstand for indkøbet er et højopløsende rasterkraftmikroskop (AFM), herunder alle til drift nødvendige hard- og softwarekomponenter. Systemet tjener til højopløsende karakterisering af overflader og grænseflader på nano- og atomær skala, især for 3D-AFM-målinger i væsker samt driftfri langtidsmålinger i forskningsanvendelser.

CPV-koder

Scanning probe microscopesMicroscopes

Dokumenter & indsendelse

AI sammandrag
Log ind for et AI sammandrag

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Relaterede udbud