Spring til indhold
Tilbage til søgning

Danmark – Maskiner og apparatur til prøvning og måling – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDanmarkPubliceret den 04. okt. 2026
28 dage tilbage

Beskrivelse

Denne udbudsrunde omhandler DTU Nano's planlagte indkøb af en fotonisk monteringsstation og en fotonisk waferprøvestation. Udbudsrunden er opdelt i to lodd – et for hver af de to stationer. Budgivere kan vælge at byde på et eller begge lodd, der vil blive evalueret og tildelt individuelt. Monteringsstationen er til at forbinde fiberarrayenheder (FAUs) til en optisk chip. Typen forbindelse vil være kantkopling ved brug af bølgeledere løber til justering, men hvis nødvendigt, kan justeringen også udføres ved brug af lyskilden på chippen (hvis den eksisterer) eller ved brug af en ekstern lyskilde og forbinde to FAUs, en på hver side af chippen. Dermed er det hovedformål med maskinen at udføre montering og fiberfæstning af fotoniske chips. Systemet skal understøtte forskning, prototyping, procesudvikling, pilotproduktion og lavmængdeproduktionsaktiviteter inden for DTU Nano's avancerede fabrikationsfaciliteter. DTU har aktiviteter inden for Silicon Photonics (SiPh), fotoniske integrerede kredsløb (PICs), optiske transceivere, lasermoduler, fotodetektorer, fiberoptiske samlinger, kopakket optik og kvantumfotoniske enheder, som vi ønsker at understøtte på bedst mulige måde. DTU har derfor til hensigt at købe en omkonfigurerbar, fleksibel, alsidig maskine. Formålet med fotonisk waferprøvestation er at karakterisere kvaliteten af fotoniske integrerede kredsløb (PICs). Der skal være mulighed for at karakterisere både optisk og elektrisk ydeevne. For den optiske karakterisering vil hovedkoplingsteknikken være gennem gitterkoplere, men udstyret skal også kunne konfigureres til kantkopling til komponentfacetter i en rille på waferen. I dette tilfælde kan der være brug for forskellige holdere og fibre. De elektriske egenskaber skal karakteriseres både i DC og RF op til 40 GHz ved brug af prøver og/eller prøvekort. Systemet skal understøtte forskning, udvikling, proceskvalifikation og rutinekarakteriseringsaktiviteter inden for DTU Nano's avancerede fabrikationsfaciliteter.

CPV-koder

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumenter & indsendelse

AI sammandrag
Log ind for et AI sammandrag

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Relaterede udbud