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Franciaország – Pásztázó elektronmikroszkópok – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Université de Technologie de CompiègneFrankrigPubliceret den 09. jun. 2026
Frist overskredet
FrankrigBeskrivelse
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
CPV-koder
Scanning electron microscopes
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