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Németország – Árammennyiség-mérő műszerek – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikTysklandPubliceret den 15. jun. 2026
Frist overskredet
TysklandBeskrivelse
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
CPV-koder
Instruments for measuring electrical quantitiesMachines and apparatus for testing and measuring
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AI sammandrag
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