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France – Microscopes électroniques à balayage – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Université de Rouen NormandieΓαλλίαΔημοσιεύτηκε στις 04 Μαΐ 2026
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Περιγραφή

Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie

Κωδικοί CPV

Scanning electron microscopesMachines and apparatus for testing and measuringLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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