Πάραβαση στο περιεχόμενο
Επιστροφή στην αναζήτηση
Αυτή η προσφορά έχει λήξει.

Portugália – Pásztázó elektronmikroszkópok – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Universidade de AveiroΠορτογαλίαΔημοσιεύτηκε στις 28 Μαΐ 2026
Προθεσμία πέρασε

Περιγραφή

Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro

Κωδικοί CPV

Scanning electron microscopes

Έγγραφα & υποβολή

Έγγραφα διαδικασίαςΥποβολή προσφοράς
Περίληψη AI
Συνδεθείτε για μια περίληψη AI
Προβολή της πρωτότυπης ανακοίνωσηςΩς PDF

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Σχετικοί διαγωνισμοί

Περισσότερα σε Εξοπλισμός εργαστηριακός, οπτικός και ακριβείας (εκτός από γυαλιά)Περισσότερα σε ΠορτογαλίαΌλοι οι διαγωνισμοί αυτής της αρχής