Δανία – Μηχανές και συσκευές δοκιμών και μετρήσεων – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Αυτή η προσφορά αφορά την προγραμματισμένη αγορά του DTU Nano για μια Φωτονική Σταθμός Συνθέσεως και έναν Φωτονικό Σταθμός Ελέγχου Φακέλων. Η προσφορά χωρίζεται σε δύο λότους – ένας για κάθε έναν από τους δύο σταθμούς. Οι προσφορείς μπορούν να επιλέξουν να προσφέρουν σε ένα ή και στους δύο λότους, οι οποίοι θα αξιολογηθούν και θα απονεμηθούν ατομικά. Ο σταθμός σύνθεσης είναι για τη σύνδεση μονάδων φακέλων ινών (FAUs) με ένα φωτονικό τσιπ. Ο τύπος σύνδεσης θα είναι η ακμή με τη χρήση βελών φωτεινών για την ευθυγράμμιση, αλλά αν είναι απαραίτητο, η ευθυγράμμιση μπορεί να πραγματοποιηθεί είτε με τη χρήση της πηγής φωτός στο τσιπ (αν υπάρχει) είτε με τη χρήση εξωτερικής πηγής φωτός και τη σύνδεση δύο FAUs, μία από κάθε πλευρά του τσιπ. Έτσι, ο κύριος σκοπός της μηχανής είναι να πραγματοποιεί σύνθεση και προσάρτηση ινών φωτονικών τσιπ. Το σύστημα θα υποστηρίζει ερευνητικές, πρωτοτυπικές, ανάπτυξη διαδικασίας, παραγωγικές δραστηριότητες μικρής κλίμακας και παραγωγικές δραστηριότητες μικρού όγκου εντός του προχωρημένου εργοστασίου παραγωγής του DTU Nano. Το DTU έχει δραστηριότητες εντός Φωτονικής Σιλικονίου (SiPh), Φωτονικών Ενσωματωμένων Κυκλωμάτων (PICs), Οπτικών αποστολών, Μονάδων λέιζερ, Φωτοανιχνευτών, Φωτονοπτικών συσκευών, Συσκευών φωτονοπτικών συσκευών και Φωτονοπτικών συσκευών, τα οποία θέλουμε να υποστηρίξουμε με τον καλύτερο δυνατό τρόπο. Το DTU, επομένως, σκοπεύει να αγοράσει μια επανεκτονησμένη, ευέλικτη, πολυμορφική μηχανή. Ο σκοπός του φωτονοπτικού σταθμού ελέγχου φακέλων είναι να χαρακτηρίζει την ποιότητα των φωτονοπτικών ενσωματωμένων κυκλωμάτων (PICs). Πρέπει να είναι δυνατόν να χαρακτηριστούν τόσο οι οπτικές όσο και οι ηλεκτρικές επιδόσεις. Για την οπτική χαρακτηρισμό, η κύρια τεχνική εισόδου/εξόδου συζυγίας θα γίνεται μέσω συζυγών φωτονοπτικών συζυγών, αλλά το εξοπλισμό πρέπει να είναι δυνατόν να διαμορφωθεί επίσης για ακμές συζυγίας σε στοιχεία συσκευών σε μια κοιλιά στο φακέλλο. Σε αυτήν την περίπτωση, μπορεί να χρειαστούν διαφορετικοί κάτοχοι και ίνες. Οι ηλεκτρικές ιδιότητες πρέπει να χαρακτηριστούν τόσο σε DC όσο και σε RF έως 40GHz με χρήση πινάκων/πινακίδων. Το σύστημα θα υποστηρίζει ερευνητικές, ανάπτυξη, ποιότητα διαδικασίας και ρουτίνα δραστηριότητες ελέγχου εντός του προχωρημένου εργοστασίου παραγωγής του DTU Nano.