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Deutschland – Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) – Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung

Friedrich-Schiller-Universität JenaΓερμανίαΔημοσιεύτηκε στις 23 Σεπ 2026
32 ημέρες απομένουν

Περιγραφή

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.

Κωδικοί CPV

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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