Πάραβαση στο περιεχόμενο
Επιστροφή στην αναζήτηση
Αυτή η προσφορά έχει αποσυρθεί.

Γερμανία – Επίγειες συσκευές παρατήρησης – High resolution X-ray inspection tool

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | IMWS vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWSΓερμανίαΔημοσιεύτηκε στις 05 Αυγ 2026
Προθεσμία πέρασε

Περιγραφή

Το Ινστιτούτο Fraunhofer για τη Μικροδομή των Υλικών και των Συστημάτων IMWS ερευνά τη συμπεριφορά εφαρμογής, την αξιοπιστία, την ασφάλεια και τη διάρκεια ζωής των πρωτοποριακών υλικών σε συστατικά και συστήματα. Η Μονάδα Επιχειρήσεων “Ηλεκτρονικά Υλικά και Συστατικά” του Fraunhofer IMWS υποστηρίζει τους συνεργάτες της βιομηχανίας και της έρευνας με την διεθνώς αναγνωρισμένη εμπειρία της σε ανάλυση αποτυχιών ηλεκτρονικών συστατικών. Το Fraunhofer IMWS θα ενισχύσει τις δυνατότητες του για προχωρημένη ανάλυση αποτυχιών και χαρακτηρισμό υλικών για να υποστηρίξει την αύξηση των νέων τεχνολογιών ετερογενούς ενσωμάτωσης, αντιμετωπίζοντας τις προκλήσεις της παραγωγής και της αξιοπιστίας. Για να επιτρέψει την μη καταστρεπτική ανίχνευση και αξιολόγηση των δομικών παραλλαγών, των ελαττωμάτων επαφής, των χαρακτηριστικών ζημιών και την πιο ακριβή δυνατή τοποθετησή τους στο πακέτο για να επιτρέψει περαιτέρω υψηλής ανάλυσης φυσικών διαγνωστικών, απαιτούνται ιδιαίτερα τα πιο πρόσφατα συστήματα ραδιογραφίας (2D) και τομογραφίας X (3D-CT) για την μη καταστρεπτική ανίχνευση και αξιολόγηση των δομικών παραλλαγών, των ελαττωμάτων επαφής, των χαρακτηριστικών ζημιών και την πιο ακριβή δυνατή τοποθετησή τους στο πακέτο για να επιτρέψει περαιτέρω υψηλής ανάλυσης φυσικών διαγνωστικών. Απαιτείται μια πολυπροσωπική εργαστηριακή σταθμός υψηλής απόδοσης για την μετα-επεξεργασία των γεννημένων συνόλων δεδομένων εικόνας για την ταυτοποίηση μικρών παραλλαγών και ελαττωμάτων μέσα στα συσκευές. Αυτή η προσφορά αφορά την παράδοση ενός λειτουργικά ολοκληρωμένου συστήματος, συμπεριλαμβανομένου της συσκευής, της εγκατάστασης, της λειτουργίας και όλων των απαραίτητων συνδέσεων, πιστοποιήσεων και λογισμικού για τη λειτουργία. Οι απαιτήσεις για ένα σύγχρονο εργαλείο ελέγχου ακτινογραφίας για υπερυπολογιστικά συστατικά 2.5/3D περιγράφονται παρακάτω:

Κωδικοί CPV

Surface observing apparatus

Έγγραφα & υποβολή

Περίληψη AI
Συνδεθείτε για μια περίληψη AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Σχετικοί διαγωνισμοί