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Németország – Árammennyiség-mérő műszerek – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikAlemaniaPublicado el 15 jun 2026
Fecha límite pasada
AlemaniaDescripción
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Códigos CPV
Instruments for measuring electrical quantitiesMachines and apparatus for testing and measuring
Documentos y presentación
Resumen de IA
Inicia sesión para un resumen de IAContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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