Sisu vaatamiseks vahele jätta
Tagasi otsingule

Madalmaad – Mikroelektroonilised masinad ja aparaadid ning mikrosüsteemid – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOHollandAvaldatud 27. juuli 2026
41 päeva jäänud

Kirjeldus

Päämärk on teha selle FIB/SEM seadme abil materjali fraasimine (lõikamine), 3D karakteriseerimine ja ristlõike analüüs epitaksiaalselt kasvanud InP, InGaAs, InAlGaAs ja InGaAsP kihtidel InP substraadil. Struktuurides võivad olla ka polümeerpõhised tasandustamise kihted, SiOx või SiNx dielektrikukihted ja TiPtAu või NiGeAu metallikihted.

CPV koodid

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumendid & esitamine

AI kokkuvõte
Logi sisse AI kokkuvõtte jaoks

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Seotud hanked