Sisu vaatamiseks vahele jätta
Tagasi otsingule

Svédország – Ellenőrző és tesztelőkészülékek – Semiautomatic ellipsometer

Kungliga Tekniska högskolanRootsiAvaldatud 09. sept 2026
32 päeva jäänud

Kirjeldus

KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.

CPV koodid

Checking and testing apparatus

Dokumendid & esitamine

AI kokkuvõte
Logi sisse AI kokkuvõtte jaoks

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Seotud hanked