Taani – Katse- ja mõõtemasinad ja -aparaadid – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Seevõistlus puudutab DTU Nano plaanitud omandamist fotonilise kokkupanekustatsiooni ja fotonilise vaipu proovijaamast. Seevõistlus on jagatud kaheks lotiks – iga jaama jaoks üks. Pakkumised võivad valida pakkumiseks ühe või mõlemad lotid, mis hinnatakse ja antakse iseseisvalt. Kokkupanekujaam on fotonilise kiibi optilise kiibiga ühendamiseks. Ühenduse tüüp on servaühendus, kasutades lainete juhtmete silindreid, kuid kui on vaja, saab ühendust teha ka kasutades kiibi valgusallikat (kui see eksisteerib) või kasutades välisvalgusallikat ja ühendades kaks FAU-d, ühe iga kiibi poolt. Seega on peamine masina eesmärk teha fotoniliste kiipide kokkupanek ja optilise kiibiga ühendamine. Süsteem peab toetama uurimist, prototüüpimist, protsessi arendamist, piloottootmist ja madala mahuga tootmisaktiviteete DTU Nano täpsusfabrikatsiooniseadmete sees. DTU tegevus on SiPh, PIC, optiliste transiiverite, laserimoodulite, fotodetektorite, optiliste kiibide, ko-pakitud optika ja kvantfotoniliste seadmete alal, mida soovime võimalikult parimal viisil toetada. DTU soovib seega osta ümberkonfigureeritavat, paindlikku, mitmeotstarbelist masinat. Fotonilise vaipu proovijaama eesmärk on iseloomustada fotonilise integraalseid kiipide (PICs) kvaliteeti. Peab olema võimalik iseloomustada nii optilist kui ka elektriomadusi. Optilise iseloomustamise jaoks on peamine ühendus sisene/väljamine tehnika läbi graatkendurite, kuid seadme peab olema võimalik konfigureerida ka servaühenduse jaoks komponentide servadele vaiba. Sellisel juhul võivad olla vaja erinevad hoidjad ja kiud. Elektriomadused tuleb iseloomustada nii DC kui ka RF kuni 40GHz proovide ja/ või proovikaartidega. Süsteem peab toetama uurimist, arendust, protsessi kvalifitseerimist ja rutiiniset iseloomustamist DTU Nano täpsusfabrikatsiooniseadmete sees.