Sisu vaatamiseks vahele jätta
Tagasi otsingule

Belgia – Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid) – WAFER-COMPATIBELE PLASMA GEFOCUSTE IONENBUNDEL-SCANNING ELEKTRONENMICROSCOOP (PFIB-SEM) SYSTEEM

Imec EU Pilot line NVBelgiaAvaldatud 03. juuni 2026
Tähtaja ei antud

Kirjeldus

WAFERI-ÕHUSKUSSEL VÕIMA FOKUSEERITUD IONKIREDE SKANNIVA ELEKTRONMIKROSKOOBISüsteem

CPV koodid

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

Dokumendid & esitamine

AI kokkuvõte
Logi sisse AI kokkuvõtte jaoks

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Seotud hanked