Sisu vaatamiseks vahele jätta
Tagasi otsingule

Poola – Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid) – Sprzedaż i dostarczenie aparatury, wyposażenia oraz akcesoriów laboratoryjnych Laboratorium Mikroanalizy Elektronowej, Mikrosondy i Dyfrakcji Rentgenowskiej Wydziału Geologii Część 1. Zakup detektora dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych Część 2. Zakup zestawu do katodoluminescencji z mikroskopem optycznym Część 3. Zakup komory temperaturowej z osprzętem Część 4. Zakup sprężarki powietrza

Uniwersytet WarszawskiPoolaAvaldatud 25. aug 2026
35 päeva jäänud

Kirjeldus

1. Tellimuse objekt on Laboratorium Mikroanalizy Elektronowej, Mikrosondy i Dyfrakcji Rentgenowskiej Wydziału Geologii laboratooriumi aparatuuri, varustus ja akseessuaaride müük ja toimetamine. Osa 1. Elektronide tagasipeegeldatud difraktsiooni detektori (EBSD) ostmine (Electron Backscatter Diffraction) mikroalale kristallilisuse ja kristallifaside orienteerimise uurimiseks. Osa 2. Katodoluminesentsi komplekti ostmine (CL) dedikatsiooniga optilise mikroskoobiga optilise mikroskoopia töötoa jaoks mikroalale materjalide sügavdiagnoostika läbiviimiseks. Osa 3. Temperatuurikambri ja optilise süsteemi stabiliseerimiseks vajaliku varustuse ostmine korrelatsioonilisele SEM–Raman platvormile. Osa 4. Kompressori ostmine optilise süsteemi stabiliseerimiseks korrelatsioonilisele SEM–Raman platvormile. Osas 3 tellimuse objekt peab olema kompatibeline Wydziału Geologii omava inVia Qontor Raman spektromeetriga prod. Renishaw ja juhtimisprogrammiga Wire 5.7 Renishaw; tellimuse objekt on olemasoleva uurimissüsteemi varustuse laiendus ja moderniseerimine. 2. Tellimuse objekti täpsem kirjeldus on lisaks nr 1 Tellimuse tingimuste spetsifikatsiooni, mida edaspidi nimetatakse spetsifikatsiooniks või SWZ – „Tehniline spetsifikatsioon – OPZ”. 3. Tellimuse täpsed täitmise ja toimetamise tingimused on artiklis 3 SWZ.

CPV koodid

Laboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusDiffraction apparatusMicroscopesOptical microscopes

Dokumendid & esitamine

AI kokkuvõte
Logi sisse AI kokkuvõtte jaoks

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Seotud hanked