Hispaania – Integraallülitused ja mikromoodulid – Suministro de 2 sistemas de micro/nanoposicionamiento y alineamiento óptico para la pilot line de la UPV (UPV39 Y UPV40)

Lepingu objektiks on vaja teha uuringute ja arendustegevus UPV Pilot Line'i jaoks, et parandadaks olemasolevaid ja arendadaks uusi pilootjooni kogu Liidus, et võimaldada edaspidi edasiarendada ja rakendada esinduslikke pooljuhttehnoloogiaid ja tuleviku pooljuhttehnoloogiaid. Selleks on vaja osta, teiste seas, järgmised seadmed:

• UPV39 - Mikro/naanopositsioneerimise ja optilise joondamise SINGLE-SIDED süsteem fotonikas integreerimiseks UPV pilootjooni jaoks

• UPV40 - Mikro/naanopositsioneerimise ja optilise joondamise DOUBLE-SIDED süsteem fotonikas integreerimiseks UPV pilootjooni jaoks

Kõrge täpsusega mikro/naanopositsioneerimise ja optilise joondamise süsteemid võimaldavad fotoniliste integreeritud ringkondade eksperimentaalset karakteriseerimist, positsioneerides kontrollitult optilisi kiude, kiuduvälju ja kopleerimissondi kiipide, die, plaadide, ribade või fotoniliste prototüüpide suhtes. Selline varustus on oluline uurimistegevuses, arenduses, testimises ja mõõtmises fotonilises integreerimises, sest optiline kopleerimine kiud ja kiibi vahel on üks kriitilisi etappe, et saada usaldusväärsed, korduvad ja väikese ebatäpsusega mõõtmised. Need süsteemid on vaja optilise kopleerimise optimeerimiseks nii sisend- kui ka väljund- ja sisend/väljundkonfiguratsioonides, nii pinnakopleerimisel kui ka servakopleerimisel, võimaldades vähendada sisendikaotusi, maksimeerida kopleeritud võimsust ja parandada mõõtmiste stabiilsust. Single-sided ja double-sided konfiguratsioonide olemasolu võimaldab teha nii üksikute optiliste pordi joondamisega katseid kui ka täielikke optiliste ülekande karakteriseerimisi kahe pordi vahel, mis on oluline fotoniliste filtrite, resonatooride, interferomeetrite, lainejuhtide, kopleerimiste, multiplexerite, modulatsioonide ja teiste integreeritud fotoniliste komponendite uuringute jaoks. 2 Kõrge positsioneerimise lahutusvõime ja korduvus, koos automaatsete esmase kopleerimise otsingute, skaneerimise ja optilise võimsuse optimeerimise rutiinidega, võimaldab oluliselt vähendada eksperimentaalse seadistamise aega ja suurendada katsete korduvust. See on eriti oluline uurimise ja arenduse keskkondades, kus töötatakse mitmete disainide, tehnoloogiliste platvormide ja protsessivariantidega, ning kus on vaja prototüüpe karakteriseerida erinevatel tootmise ja valideerimise faasidel. Samuti on need seadmed olulised edaspidi arendada elektrooptiliste testimise meetodeid, kiuduväljade joondamist, kopleerimise protsesside valideerimist ja fotoniliste integreeritud ringkondade kohta usaldusväärsete eksperimentaalsete andmete loomiseks. Need seadmed võimaldavad parandada labori võimet teha täpsed optilised mõõtmised, kiirendada prototüüpide valideerimist, vähendada kopleerimise manuaalselt tekitatud variatsiooni ja suurendada mõõtmiste metroloogilist kvaliteeti.