Taani – Laboriseadmed, optika- ja täppisinstrumendid (v.a klaasid) – Automatiseret bakteriologi-løsning til Klinisk Mikrobiologi på Aarhus Universitetshospital
Kirjeldus
Klinisk Mikrobioloogia osakond Aarhus Universitetshospitalis on vaja ühtse, automatiseeritud ja digitaliseeritud bakterioloogilise diagnostika lahendust, mis toetab piirkonna funktsiooni ja tulevase kasvu proovide arvus. Lahendus peab hõlmama ja integreerima kogu protsessi, alates seede- ja inkubeerimisprotsessist kuni digitaalse pildistamise ja lugemiseni. Süsteem peab tagama kõrge kvaliteedi, taastuvuse ja efektiivsuse automatiseerimise, AI-põhise kasvude tuvastamise ning süstemaatilise andmete dokumentatsiooni kaudu. Lahendus peab integreeruma labori muu IT-infrastruktuuriga ja toetama täielikku jälgitavust, paindlikku kohandamist muudetud tööprotsessidele ning kõrget töökindlust. Lisaks peab lahendus kaasa aidama jätkusuutliku, turvalise ja ergonoomilise töökohtade loomisele ning peab olema võimalik kohalikku tehnikute osalust kogu tööprotsessis.
CPV koodid
Dokumendid & esitamine
Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
Seotud hanked
Danmark – Målere – Digitale målere og datahjemtagning til Ringsted Forsyning A/S
C. Hardam ApSTaaniMetersWater metersData-processing servicesAegumiskuupäeva ei antudAvaldatud 20. okt 2026
Danmark – Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller) – IHC Farvninger, Udstyr og udstyrsspecifikke forbrugsvarer
Region HovedstadenTaaniLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Tähtajaks on 12 päevaAvaldatud 20. okt 2026
Danmark – Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller) – TLA løsning til Præanalyse, Koagulation og Mikrobiologi på KB Rigshospitalet
Region HovedstadenTaaniLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Tähtajaks on 29 päevaAvaldatud 20. okt 2026
Denmark – Scanning electron microscopes – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source
Danmarks Tekniske Universitet - DTUTaaniScanning electron microscopesElectron microscopesIon microscopesTähtajaks on 26 päevaAvaldatud 14. okt 2026