Siirry sisältöön
Takaisin hakua

Alankomaat – Mikroelektroniset koneet ja laitteet sekä mikrojärjestelmät – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOAlankomaatJulkaistu 27.7.2026
41 päivää jäljellä

Kuvaus

Pääasiallinen tarkoitus tässä FIB/SEM-laitteistossa on suorittaa materiaalin jyrsimistä (leikkausta), 3D-karakterisointia ja risteilevästä leikkauksesta analyysia epitaksisesti kasvattamista InP, InGaAs, InAlGaAs ja InGaAsP kerroksista InP-substraateilla. Rakenteissa voi myös olla polymeeripohjaisia tasapainotuskerroksia, SiOx tai SiNx dielektrisiä kerroksia ja TiPtAu tai NiGeAu metallikerroksia. Levering van één SEM +FIB systeem

CPV-koodit

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Asiakirjat & lähetys

AI-yhteenveto
Kirjaudu sisään AI-yhteenvetoon

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Aiheeseen liittyvät hankinnat