Siirry sisältöön
Takaisin hakua

Saksa – Scanning probe -mikroskoopit – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität BayreuthSaksaJulkaistu 11.11.2026
14 päivää jäljellä

Kuvaus

Hankintäkohtena on korkealaatuinen rakennevoimamikroskooppi (AFM), mukaan lukien kaikki sen toimintaan tarvittavat laitteistot ja ohjelmistot. Järjestelmä on tarkoitettu korkealaatuiseen pinta- ja rajapintojen karakterisointiin nano- ja atomitasolla, erityisesti 3D-AFM-mittauksille nesteissä sekä drittille Langzeitmessungen tutkimuskäytössä.

CPV-koodit

Scanning probe microscopesMicroscopes

Asiakirjat & lähetys

AI-yhteenveto
Kirjaudu sisään AI-yhteenvetoon

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Aiheeseen liittyvät hankinnat