An Danmhairg – Scanning electron microscopes – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU áiríonn ar a lán do sholáthar, do sheachadadh, do chur i bhfeidhm, do chomhordú agus do aithint ar aon (1) plátafórm dhúbailbheach focas ionadáin scannán leictreon (FIB-SEM). Beidh an instriúint ag seirbhíocht ar imeachtairí mórúsáide agus beidh sé á n-úsáid do chlárúachán sruthlínach, do chros-sheachadadh áit-sheachadach, do ullmhú lamella TEM (lena n-áirítear feidhmeanna ullmhúcháin uathoibríochta), do thomagrafaíocht 3D FIB-SEM, do dhíothú agus do dhíothú gáis, do mhionathrú, agus do mhicreanalú ilchomhartha le speictreascópacht X-ghathach (EDS) agus ToF-SIMS.