Séim le haghaidh an ábhar
Ar ais go lorg

An tSualainn – Scanning electron microscopes – EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscope

Kungliga Tekniska högskolanan tSualainnFoilsithe ar 30 MFómh 2026
8 lá fágtha

Cur síos

KTH Royal Institute of Technology ag iarraidh tairiscintí ar shistim intiúnta do speictreascópacht X-ghathach deimhneach (EDS) agus difrácacht scaipeadh leictreon (EBSD), chun a mhountáil ar an micreascóp scannáin leictreon fhíochmhaighneach (FE-SEM) JEOL JSM-7800F atá ann cheana féin sa Láithreán Hultgren.

Códanna CPV

Scanning electron microscopes

Dátaí & iontráil

Coimriú AI
Logáil isteach don saorán AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Tairiscintí gaolmhara