Preskoči na sadržaj
Natrag na pretraživanje

Csehország – Pásztázó elektronmikroszkópok – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace

Univerzita Palackého v OlomouciČeškaObjavljeno na 23. srp 2026.
33 dana preostala

Opis

Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.

CPV kodovi

Scanning electron microscopesIon microscopesSpectrometersMass spectrometer

Dokumenti i prijava

Sažetak AI
Prijavi se za sažetak AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Povezane nabave