Preskoči na sadržaj
Natrag na pretraživanje

Danska – Strojevi i aparati za ispitivanje i mjerenje – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDanskaObjavljeno na 04. lis 2026.
8 dana preostala

Opis

Ovaj tender odnosi se na planiranu nabavu DTU Nano-a za fotonsku postaju za montažu i fotonsku postaju za ispitivanje wafera. Tender je podijeljen na dva dijela – po jedan za svaku od dvije postaje. Ponuđači mogu odabrati da se natječu za jedan ili oba dijela, koji će se pojedinačno procijeniti i dodijeliti. Postaja za montažu služi za povezivanje polja vlakana (FAUs) s optičkim čipom. Vrsta spoja će biti rubno spajanje koristeći petlje vodiča za poravnanje, ali ako je potrebno, poravnanje se može izvesti i koristeći izvor svjetlosti na čipu (ako postoji) ili koristeći vanjski izvor svjetlosti i spajajući dva FAU-a, po jedan na svakoj strani čipa. Tako je glavni cilj stroja izvesti montažu i priključak vlakana fotonskih čipova. Sustav treba podržavati istraživanja, prototipiranje, razvoj procesa, pilot proizvodnju i aktivnosti niskovolumne proizvodnje u naprednoj proizvodnoj ustanovi DTU Nano-a. DTU ima aktivnosti u području Silicon Photonics (SiPh), Photonic Integrated Circuits (PICs), Optical transceivers, Laser modules, Photodetectors, Fiber-optic assemblies, Co-packaged optics i Quantum photonic devices koje želimo podržati na najbolji mogući način. DTU stoga namjerava kupiti prekonfigurabilan, fleksibilan i višestruki stroj. Svrha fotonske postaje za ispitivanje wafera je karakterizacija kvalitete fotonskih integriranih krugova (PICs). Trebalo bi biti moguće karakterizirati i optičke i električne performanse. Za optičku karakterizaciju, glavna tehnika ulaznog/izlaznog spajanja će biti kroz rešetkaste spajanja, ali oprema treba biti moguće konfigurirati i za rubno spajanje na komponentne facete u žlijebu na waferu. U ovom slučaju možda će biti potrebni različiti držači i vlakna. Električne karakteristike treba karakterizirati i u DC i u RF do 40GHz koristeći sondu i/ili sondne karte. Sustav treba podržavati istraživačke, razvojne, kvalifikacijske procesa i rutinske aktivnosti karakterizacije u naprednoj proizvodnoj ustanovi DTU Nano-a.

CPV kodovi

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumenti i prijava

Sažetak AI
Prijavi se za sažetak AI

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Povezane nabave