Njemačka – Strojevi i aparati za ispitivanje i mjerenje – Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers

Predmet nabave je opskrba, instalacija i puštanje u pogon poluautomatskog sustava za probiranje pločica za električno i visokofrekventno karakteriziranje pločica od 200 mm za istraživačke i laboratorijske potrebe u IHP-u. Sustav će uključivati, među ostalim komponentama, probir pločica od 200 mm s vakuumskim čekićem i preciznim položajem, pojedinačne probe, multifunkcionalne probe za RF mjerenja do najmanje 6 GHz, sustav za probne kartice, automatiziranu mikroskopsku i kamera opremu, kao i komponente za kontrolu i softver. U okviru opskrbe također je uključena dostava, instalacija, puštanje u pogon, obuka, dokumentacija, jamstvo i opskrba rezervnim dijelovima.