Tartalomhoz ugrás
Vissza a kereséshez

Hollandia – Mikroelektronikai gépek, berendezések és mikrorendszerek – Metrology SEM+FIB system

Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNOHollandiaMegjelent 2026. júl. 27.
41 nap maradt

Leírás

A FIB/SEM berendezés fő célja az InP, InGaAs, InAlGaAs és InGaAsP rétegek InP szubsztrátokon való epitaxiális növekedésének anyagfrezes (vágás), 3D karakterizálás és keresztmetszeti elemzésének végrehajtása. A szerkezetek tartalmazhatnak polimer alapú planarizációs rétegeket, SiOx vagy SiNx dielektrikus rétegeket és TiPtAu vagy NiGeAu fémrétegeket. Levering van één SEM +FIB systeem.

CPV kódok

Microelectronic machinery and apparatus and microsystemsMiscellaneous evaluation or testing instruments

Dokumentumok és benyújtás

AI összefoglaló
Jelentkezzen be egy AI összefoglalóhoz

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Kapcsolódó közbeszerzések