Tartalomhoz ugrás
Vissza a kereséshez

Csehország – Pásztázó elektronmikroszkópok – UPOL/PřF/KEF - Systém FIB-SEM včetně analytických technik a nanoindentace

Univerzita Palackého v OlomouciCsehországMegjelent 2026. júl. 23.
33 nap maradt

Leírás

Předmětem Veřejné zakázky je dodávka mikroskopického systému FIB-SEM (skenovací elektronový mikroskop s iontovým svazkem) s možností depozice nejméně tří materiálů (platina, uhlík, wolfram) a s navazujícími analytickými technikami pro detailní analýzu studovaných materiálů (4DSTEM, EBSD, EDS, Nanoindentace, TOF-SIMS). Minimální požadavky na předmět Veřejné zakázky jsou vymezeny technickými, obchodními nebo jinými smluvními podmínkami, které jsou přílohou Zadávací dokumentace. A to zejména Technickou specifikací a závazným Zněním smlouvy.

CPV kódok

Scanning electron microscopesIon microscopesSpectrometersMass spectrometer

Dokumentumok és benyújtás

AI összefoglaló
Jelentkezzen be egy AI összefoglalóhoz

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Kapcsolódó közbeszerzések