Dánia – Pásztázó elektronmikroszkópok – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU igényli egy (1) fokuszált ionnyal működő röntgensugár-mikroszkóp (FIB-SEM) kettős sugárplatform szállítását, szállítását, telepítését, üzembehelyezését és elfogadását. Az eszköz több felhasználó kutatási környezetben fog szolgálni és a következőkre fog használni: magas felbontású felszínképalkotás, helyspecifikus keresztmetszés, TEM-lamella készítés (automatizált folyamatok beleértve), 3D FIB-SEM tomográfia, gázsegédletes lehelyezés és etezés, nanoméretű manipuláció és elemzáró mikroanalízis energiadisperszív röntgenspektroszkópia (EDS) és ToF-SIMS segítségével.