Norvégia – Gépek és készülékek tesztelésre és mérésre – Integrated system for electric characterization and probing of semiconductor components and neuromorphic electronics

A Norvégiai Egyetem Oslo új kutatási környezetet hoz létre neuromorfológiai hardverben az energiahatékony mesterséges intelligencia számára. Az aktivitás az anyagfejlesztést a SMN (Centre for Materials Science and Nanotechnology) központjában kapcsolja össze a kört és a rendszertervezési szakértelmével az Informatikai Tanszéken. A központi szükséglet az, hogy az elemi anyagok és eszközök fejlesztésétől a kis tömbök és demonstrátorokig elektromos jellegzetességeket mérjenek és jellemzzenek. Ez a ferroelektromos alagútátjárókat (FTJs), ferroelektromos mezőhatású tranzisztorokat (FeFETs), rezisztív memóriáeszközöket és egyéb, a neuromorfológiai elektronikához releváns eszközkoncepciókat is magában foglalja. A követelmény két fő technikai részre oszlik (Lot 1 és Lot 2): 1: Egy moduláris elektromos mérési és jellemzési eszköz 2: Egy félautomata próbapult hőmérséklet-vezérléssel