Tartalomhoz ugrás
Vissza a kereséshez

Dánia – Gépek és készülékek tesztelésre és mérésre – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDániaMegjelent 2026. okt. 04.
8 nap maradt

Leírás

Ez a meghívás a DTU Nano által tervezett fotonikus összeállítási állvány és fotonikus vékonyréteg sondaállvány beszerzését érinti. A meghívás két részletre oszlik – mindegyik állványra egy-egy. A pályázóknak lehetőségük van, hogy egy vagy mindkét részletre tegyenek ajánlatot, amelyek egyéni értékelés és kiosztás alapján kerülnek értékelésre és kiosztásra. Az összeállítási állvány a szálrendszerek (FAU) csatlakoztatására szolgál egy optikai csiphez. A csatlakozás típusa a hullámvezető hurokok segítségével történő élcsatlakozás lesz, de ha szükséges, a csatlakoztatást a csipre (ha létezik) vagy külső fényforrás használatával, valamint két FAU csatlakoztatásával, mindegyik a csip egyik oldalán, is elvégezhetjük. Így a gép fő célja a fotonikus csip összeállításának és szálrendszer csatlakoztatásának végrehajtása. A rendszer támogatni fogja a kutatást, prototípusfejlesztést, folyamatfejlesztést, pilotgyártást és kis mennyiségű gyártási tevékenységeket a DTU Nano előrehaladott gyártótelepén. A DTU tevékenységei a szilikonfotonika (SiPh), fotonikus integrált áramkörök (PICs), optikai transzceiverek, lézer modulok, fotodetektorok, száloptikai összeállítások, csomagolt optika és kvantum fotonikus eszközök területén mozognak, amelyeket a lehető legjobb módon szeretnénk támogatni. A DTU ezért egy újra konfigurálható, rugalmas, sokoldalú gép vásárlását szándékozik. A fotonikus vékonyréteg sondaállvány célja a fotonikus integrált áramkörök (PICs) minőségének jellemzése. Lehetővé kell tennie mind az optikai, mind az elektromos teljesítmény jellemzését. Az optikai jellemzésnél a fő csatlakoztatási/kiindulási technika a rácscsatlakozók segítségével történik, de az eszközt konfigurálni kell az elemek rézsútjára a vékonyrétegben is. Ebben az esetben más tartók és szálak is szükségesek lehetnek. Az elektromos jellemzőket DC és RF (40 GHz-ig) segítségével kell jellemzene, szonda és/ vagy szondakártyák használatával. A rendszer támogatni fogja a kutatást, fejlesztést, folyamat minősítését és a rendszeres jellemzési tevékenységeket a DTU Nano előrehaladott gyártótelepén.

CPV kódok

Machines and apparatus for testing and measuringChecking and testing apparatusSpecialist optical instrumentsMiscellaneous special-purpose machinery

Dokumentumok és benyújtás

AI összefoglaló
Jelentkezzen be egy AI összefoglalóhoz

Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

Kapcsolódó közbeszerzések