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France – Microscopes électroniques à balayage – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.
Université de Rouen NormandieFranciaPubblicato il 04 mag 2026
Scadenza superata
FranciaDescrizione
Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie
Codici CPV
Scanning electron microscopesMachines and apparatus for testing and measuringLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)
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