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Svezia – Microscopi – Atomic Force Microscope (AFM)

Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagSveziaPubblicato il 20 lug 2026
44 giorni rimasti

Descrizione

Microscopio a Forza Atomica (AFM) per la caratterizzazione di campioni di film e superfici sia in condizioni asciutte che in ambienti liquidi.

Codici CPV

MicroscopesChecking and testing apparatus

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Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

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