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Germania – Microscopi elettronici a scansione – in situ Rasterelektronenmikroskop (in situ SEM)
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität BayreuthGermaniaPubblicato il 27 ott 2026
30 giorni rimasti
GermaniaDescrizione
Deve essere acquisito un SEM in situ che viene utilizzato come strumento chiave nell'analisi operando multiscala locale di catalizzatori eterogenei e materiali per batterie.
Codici CPV
Scanning electron microscopes
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