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Portugália – Pásztázó elektronmikroszkópok – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Universidade de AveiroPortogalloPubblicato il 28 mag 2026
Scadenza superata
PortogalloDescrizione
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Codici CPV
Scanning electron microscopes
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