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Svédország – Ellenőrző és tesztelőkészülékek – Semiautomatic ellipsometer

Kungliga Tekniska högskolanSveziaPubblicato il 09 set 2026
32 giorni rimasti

Descrizione

KTH is seeking a spectroscopic ellipsometer with automatic wafer-mapping capability for measurement of thin film thickness and optical constants (n, k), for installation in the Electrum Laboratory cleanroom.

Codici CPV

Checking and testing apparatus

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Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

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