Danimarca – Microscopi elettronici a scansione – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU richiede la fornitura, la consegna, l'installazione, la messa in servizio e l'accettazione di una (1) piattaforma a doppio fascio a microscopia elettronica a scansione a fascio di ioni focalizzato (FIB-SEM). L'attrezzatura servirà un ambiente di ricerca multiutente e sarà utilizzata per l'immaginazione superficiale ad alta risoluzione, la sezione trasversale specifica del sito, la preparazione di lamelle TEM (comprese le procedure di lavoro automatizzate), la tomografia 3D FIB-SEM, la deposizione e la incisione assistite da gas, la manipolazione a scala nanometrica e la microanalisi elementare mediante spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) e ToF-SIMS.